芯片测试微互连

芯片测试微同轴探针

芯片测试微同轴探针，覆盖 DC–110GHz，用于高速半导体器件的射频探测。

探针卡微互连

探针卡微互连模块，覆盖 DC–67GHz，把多通道探针组织为可复用测试界面。

晶圆级高频探针

晶圆级高频探针，覆盖 DC–110GHz，面向先进制程的射频晶圆探测。